本發(fā)明涉及一種組合方法,其中使用掃描強力顯微鏡記錄樣品表面的高分辨率再現(xiàn),并用質(zhì)譜測量樣品表面的局部高分辨的化學屬性(所述屬性與再現(xiàn)相關(guān))。在有限的表面區(qū)域的激光解吸之后,進行表面的化學分析。為實現(xiàn)此解吸,根據(jù)光學近場原理在每個相關(guān)的點以脈沖形式照明表面。光學近場原理確保以沒有衍射限制的局部解析的分析。所用的測量探針的中空觸點可使得對所選的表面區(qū)域具有唯一的化學分析配置。高度對稱排列使得產(chǎn)生的分子離子良好傳輸。
聲明:
“使用掃描探針技術(shù)局部高分辨率的質(zhì)譜儀表征表面的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)