本公開提供一種發(fā)光二極管失效定位方法,其中,發(fā)光二極管具有塑封結(jié)構(gòu),方法包括:電性能測試失效發(fā)光二極管的電參數(shù),根據(jù)電參數(shù)判斷是否為連接失效;若是,確定封裝和外部引腳是否正常;若是,射線測試確定內(nèi)部引腳和
芯片是否正常;若是,射線測試確定是否為鍵合絲內(nèi)部斷裂;若是,減薄塑封結(jié)構(gòu),確定鍵合絲內(nèi)部斷裂的位置。用于各種塑封結(jié)構(gòu)的發(fā)光二極管。通過進行物理測試、機械研磨、化學(xué)開封相結(jié)合逐步定位失效點。對于周圍存在有機物的包裹,斷裂裂紋間隙很小,有還處于時通時斷狀態(tài)的發(fā)光二極管,可以完整地保留鍵合絲形態(tài),并對鍵合絲的內(nèi)部斷點進行精確分析??梢院唵胃咝У胤治鲦I合絲連接失效通常發(fā)生的鍵合點的頸縮部位斷裂原因。
聲明:
“發(fā)光二極管失效定位方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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