本發(fā)明公開(kāi)了一種金屬化膜電容器在交直流復(fù)合電壓下劣化機(jī)理的解耦方法，屬于電力設(shè)備測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明通過(guò)對(duì)金屬化膜電容器及與金屬化膜電容器相同參數(shù)的導(dǎo)線電容，進(jìn)行老化試驗(yàn)對(duì)比，解耦出電化學(xué)腐蝕和熱效應(yīng)、以及自愈現(xiàn)象所造成的金屬化膜電容器劣化，解耦方法簡(jiǎn)單易行，有助于準(zhǔn)確分析金屬化膜電容器的失效原因，指導(dǎo)電容器的設(shè)計(jì)和應(yīng)用方法，以及電容器在工程應(yīng)用中的可靠性和壽命預(yù)測(cè)，進(jìn)而保證換流器的長(zhǎng)期穩(wěn)定運(yùn)行。本發(fā)明可以廣泛應(yīng)用于直流輸電換流閥、風(fēng)電換流器等設(shè)備中的直流支撐電容，實(shí)用性強(qiáng)。