公開了一種用于準(zhǔn)確地成像化學(xué)發(fā)光和其他發(fā)光的系統(tǒng)、裝置和方法。具有不透光的殼體、一個或多個線性電荷耦合器件(CCD)或互補金屬氧化物半導(dǎo)體(CMOS)成像
芯片的檢測器條以及高工作數(shù)值孔徑(NA)光學(xué)元件的緊湊型平板掃描儀在一個方向上并且隨后在相反的方向上近距離掃描樣本。將對于兩遍或更多遍之間的每一個像素位置(x,y)的強(qiáng)度讀數(shù)的平均值和其他組合一起求平均以便補償隨時間變化的發(fā)光。片上像素分區(qū)和多個時鐘頻率可以用來最大化基于CCD的掃描儀的信噪比。
聲明:
“發(fā)光成像掃描儀” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)