本發(fā)明公開了一種利用光學(xué)干涉法來測量反射光強(qiáng)的光譜吸收法來無損檢測物質(zhì)濃度的方法及裝置。應(yīng)用光學(xué)干涉法探測光線射入物質(zhì)載體后的反射信號,通過分析不同波長下光線經(jīng)被測物質(zhì)及其載體吸收后信號的變化來間接檢測該物質(zhì)的濃度,最終達(dá)到無損監(jiān)測的目的。實現(xiàn)該檢測方法的裝置采用多個不同波長的寬帶光源、麥克爾遜干涉儀、光探測器和信號處理及計算裝置。本發(fā)明具有無損、簡便以及高靈敏度的特點。
聲明:
“物質(zhì)濃度的無損光學(xué)檢測方法及其裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)