本發(fā)明涉及一種克服XRF粉末壓片法測(cè)定合金元素粒度效應(yīng)的方法,制備粒度組成相似的標(biāo)準(zhǔn)樣品及待分析樣品,標(biāo)準(zhǔn)樣品及待分析樣品分別粗破、細(xì)破、研磨、篩分分級(jí)、配制后壓制樣片。采用x射線熒光光譜儀粉末法進(jìn)行分析。本發(fā)明通過(guò)重新分配樣品中不同粒度的組成,使標(biāo)準(zhǔn)樣品及待分析樣品的粒度組成達(dá)到高度相似,消除由于粒度效應(yīng)帶來(lái)的分析線強(qiáng)度的波動(dòng)給檢測(cè)結(jié)果帶來(lái)的誤差,解決了合金x射線熒光光譜分析粉末壓片法測(cè)定合金元素的粒度效應(yīng)和礦物效應(yīng)。
聲明:
“克服XRF粉末壓片法測(cè)定合金元素粒度效應(yīng)的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)