本發(fā)明一種蜂窩夾層結(jié)構(gòu)膠膜厚度的無損檢測方法,屬于無損檢測領(lǐng)域。本發(fā)明采用超聲縱波直入射脈沖反射法進行檢測,首先采用兩塊膠膜厚度不同的蜂窩夾芯結(jié)構(gòu)對比試塊對設(shè)備進行標定,分別記錄不同膠膜厚度試塊膠膜位置的反射回波,然后,對被檢測蜂窩夾芯結(jié)構(gòu)件進行檢測,通過被檢測蜂窩夾芯結(jié)構(gòu)件膠膜反射信號的位置特征,來判斷被檢測膠膜厚度。該發(fā)明采用無損檢測方法實現(xiàn)制件內(nèi)部膠膜厚度測量,不需要損壞制件,檢測方法簡便,容易操作,檢測結(jié)果準確度可以滿足材料制造者要求。
聲明:
“蜂窩夾層結(jié)構(gòu)膠膜厚度的無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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