本申請(qǐng)公開(kāi)了一種用于電子產(chǎn)品無(wú)損檢測(cè)的X光機(jī),包括:上料緩沖倉(cāng)、X光檢測(cè)倉(cāng)和出料緩沖倉(cāng),上料緩沖倉(cāng)和出料緩沖倉(cāng)分別設(shè)置在X光檢測(cè)倉(cāng)的前后兩側(cè),上料緩沖倉(cāng)具有與X光檢測(cè)倉(cāng)連接的第一輸送平臺(tái),出料緩沖倉(cāng)具有與X光檢測(cè)倉(cāng)連接的第二輸送平臺(tái);X光檢測(cè)倉(cāng)包括X光發(fā)射器、X光相機(jī)以及軌道輸送機(jī)構(gòu),X光發(fā)射器和X光相機(jī)分別設(shè)置在軌道輸送機(jī)構(gòu)的上下兩側(cè),軌道輸送機(jī)構(gòu)的前后兩側(cè)還分別與第一輸送平臺(tái)和第二輸送平臺(tái)連接;上料緩沖倉(cāng)用于將電子產(chǎn)品輸送至X光檢測(cè)倉(cāng),經(jīng)X光檢測(cè)倉(cāng)檢測(cè)后的電子產(chǎn)品被出料緩沖倉(cāng)輸出。本申請(qǐng)用于二手電子產(chǎn)品內(nèi)部硬件無(wú)損、不拆機(jī)檢測(cè),其不影響二手電子產(chǎn)品的二次售賣,提高檢測(cè)效率,節(jié)省檢測(cè)成本。
聲明:
“用于電子產(chǎn)品無(wú)損檢測(cè)的X光機(jī)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)