本發(fā)明提供一種基于熒光材料的無(wú)損檢測(cè)方法,所述方法包括以下步驟:1)在待測(cè)產(chǎn)品表面覆蓋熒光劑層;2)非平行激發(fā)光照射覆蓋熒光劑層的所述待測(cè)產(chǎn)品表面;3)采集激發(fā)的熒光信號(hào)換算處理為待測(cè)產(chǎn)品表面的形態(tài)信息,本發(fā)明的無(wú)損檢測(cè)方法可通過(guò)在待測(cè)產(chǎn)品表面覆蓋熒光劑層通過(guò)非平行激發(fā)光激發(fā)獲得對(duì)應(yīng)的熒光信號(hào)從而獲得被測(cè)產(chǎn)品的表面形態(tài)信息。
聲明:
“基于熒光材料的無(wú)損檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)