本發(fā)明公開一種基于太赫茲渦旋電磁波無損檢測方法,可實(shí)現(xiàn)在雷達(dá)與目標(biāo)間的橫向相對運(yùn)動很小情況下突破傳統(tǒng)實(shí)孔徑成像分辨率,在一定程度上改善雷達(dá)的角分辨能力,解決目前實(shí)孔徑雷達(dá)裝備分辨率不高的問題。其實(shí)現(xiàn)步驟是:1.選定太赫茲頻段作為無損檢測技術(shù)的頻段。2.太赫茲微波信號產(chǎn)生。3.確定渦旋電磁波發(fā)射模態(tài)以及天線個數(shù)。4.確定環(huán)形陣列構(gòu)型。5.計算天線不同模態(tài)調(diào)制激勵相位,產(chǎn)生渦旋電磁波。6.利用太赫茲渦旋電磁波對被檢測物體進(jìn)行照射。7.接收被檢測物體回波信號。8.根據(jù)檢測需求進(jìn)行數(shù)據(jù)的反演及成像。
聲明:
“基于太赫茲渦旋電磁波無損檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)