本申請?zhí)峁┮环N青枯病高光譜早期無損檢測方法及裝置,該方法包括:采集目標(biāo)植株的目標(biāo)光譜;根據(jù)最優(yōu)解特征組合,從所述目標(biāo)光譜中提取與所述最優(yōu)解特征組合對應(yīng)的目標(biāo)特征參數(shù);將所述目標(biāo)特征參數(shù)輸入目標(biāo)模型,輸出檢測結(jié)果;其中,所述最優(yōu)解特征組合為基于遺傳算法模型得到的;所述目標(biāo)模型為二分類模型基于所述最優(yōu)解特征組合處理后的訓(xùn)練樣本訓(xùn)練得到的;所述檢測結(jié)果用于指示所述目標(biāo)植株是否患有青枯病。本申請?zhí)峁┑那嗫莶「吖庾V早期無損檢測方法及裝置,用于青枯病的早期診斷,有助于青枯病的防治。
聲明:
“青枯病高光譜早期無損檢測方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)