本發(fā)明公開了一種微波無損成像目標(biāo)檢測(cè)方法,基于電磁波成像技術(shù)及電磁波逆散射原理,以超寬帶微波作為信息探測(cè)載體,實(shí)現(xiàn)無損重構(gòu)被測(cè)物體3D全息圖像。使用電磁波照射被測(cè)物體,基于電磁波定性及定量成像技術(shù)分析被照射物體的散射電磁波,重構(gòu)被測(cè)物體幾何結(jié)構(gòu)及物質(zhì)特征信息,在保證可長(zhǎng)時(shí)間安全使用的前提下,能夠識(shí)別被測(cè)目標(biāo)的特性和種類,且生成被測(cè)目標(biāo)的2D和3D圖像。
聲明:
“微波無損成像目標(biāo)檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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