本發(fā)明提供一種環(huán)形光式暗場共焦亞表面無損檢測裝置和方法,屬于光學精密測量技術領域。點光源發(fā)出的光依次經過準直鏡、環(huán)形光發(fā)生器、分光棱鏡和物鏡,物鏡將激光匯聚至待測樣品,載有待測樣品信息的反射光和散射光依次經過物鏡和分光棱鏡,入射至探測互補光闌,反射光被探測互補光闌遮擋,散射光依次經過探測互補光闌、收集透鏡和探測針孔,最終入射至光電探測器,從而完成對亞表面的檢測。本發(fā)明采用環(huán)形光束照明,結合探測互補光闌實現(xiàn)暗場共焦,解決了普通共焦顯微技術檢測亞表面損傷信噪比低的問題,適用于亞表面無損檢測。
聲明:
“環(huán)形光式暗場共焦亞表面無損檢測裝置和方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)