本發(fā)明提供一種基于圖像處理的密封性定量無(wú)損檢測(cè)方法,包括檢測(cè)控制模塊、檢測(cè)處理模塊、圖像采集模塊、圖像處理模塊以及定量評(píng)價(jià)模塊,被檢工件經(jīng)過(guò)檢測(cè)控制模塊、檢測(cè)處理模塊、圖像采集模塊、圖像處理模塊以及定量評(píng)價(jià)模塊后輸出檢測(cè)結(jié)果;與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明具有如下的有益效果:可同時(shí)實(shí)現(xiàn)操作方便、成本低廉、不受工件結(jié)構(gòu)形狀和尺寸大小的限制、受檢測(cè)環(huán)境影響小、效率高、靈敏度高以及自動(dòng)化程度高等優(yōu)點(diǎn),能夠準(zhǔn)確判斷出漏點(diǎn)位置,實(shí)現(xiàn)定性定量檢測(cè),可根據(jù)不同產(chǎn)品制定出不同的漏率檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn),廣泛應(yīng)用于生產(chǎn)制造之中。
聲明:
“基于圖像處理的密封性定量無(wú)損檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)