本實(shí)用新型公開(kāi)了一種XRD檢測(cè)用無(wú)損害樣品的制樣加樣裝置,包括板狀底座,底座上設(shè)有開(kāi)口朝上的凹槽,凹槽內(nèi)底面上平鋪有帶恒溫溫控的加熱膜,一上端開(kāi)口下端封閉的槽狀導(dǎo)熱體置于凹槽內(nèi),導(dǎo)熱體的開(kāi)口周向外翻并緊貼于底座表面上,盛樣臺(tái)置于導(dǎo)熱體內(nèi),導(dǎo)熱體一旁的底座上設(shè)有支撐體,支撐體支撐有一上端開(kāi)口的配樣瓶,配樣瓶上端開(kāi)口可由密封蓋蓋合,一倒L型加樣管的水平部自由端從配樣瓶側(cè)壁下部水平伸進(jìn)配樣瓶?jī)?nèi)并緊貼配樣瓶底部,加樣管上設(shè)有彈性吸囊和開(kāi)關(guān),倒L型加樣管豎直部自由端位于導(dǎo)熱體正上方,倒L型加樣管豎直部自由端從上往下逐漸縮?。辉撗b置不會(huì)損壞檢測(cè)面,能提高粉末材料檢測(cè)精度。
聲明:
“XRD檢測(cè)用無(wú)損害樣品的制樣加樣裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)