本發(fā)明公開了一種用于超聲波無損檢測的便攜式校準/對比試塊,包括本體,開設在本體左側的左側圓弧面,開設在本體右側的右側圓弧面和直角臨邊側,開設在本體中部的橫孔,以及設置在本體中部的測定折射角。本發(fā)明可用于超聲檢測,具有加工方面簡單;試塊體積小巧;將CSK?IA和CSK?IIA兩塊試塊的部分功能集中設計在一塊試塊上,滿足現(xiàn)場校核需要。
聲明:
“用于超聲波無損檢測的便攜式校準/對比試塊” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)