本實(shí)用新型屬于水果檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種蘋果表面損傷無(wú)損檢測(cè)裝置,包括計(jì)算機(jī)、光譜儀、光源、反射探頭、反射探頭支架以及用于作為反射光譜測(cè)量參比的反射白板,所述計(jì)算機(jī)連接光譜儀,所述光譜儀和光源均通過(guò)光纖連接反射探頭,所述反射探頭安裝在反射探頭支架上;還包括用于多方位轉(zhuǎn)動(dòng)蘋果樣本的旋轉(zhuǎn)支架,所述反射探頭對(duì)準(zhǔn)位于所述旋轉(zhuǎn)支架上的蘋果樣本。本實(shí)用新型以解決現(xiàn)有技術(shù)中針對(duì)光纖光譜采集系統(tǒng)僅能采集蘋果樣本單個(gè)點(diǎn)的光譜的問(wèn)題。
聲明:
“蘋果表面損傷無(wú)損檢測(cè)裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)