本實(shí)用新型公開了一種光激勵(lì)紅外熱成像無損檢測(cè)系統(tǒng),屬于測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,系統(tǒng)包括激勵(lì)源模塊,激勵(lì)源模塊包括外罩、設(shè)于外罩內(nèi)部的聚光罩和頭部伸入至聚光罩的熱像儀,聚光罩內(nèi)設(shè)有鹵素?zé)魳?gòu)成光陣,集成化高,便攜性強(qiáng),能夠同時(shí)實(shí)現(xiàn)被測(cè)試件的加熱處理以及紅外檢測(cè),避免了先加熱再檢測(cè)出現(xiàn)的誤差,檢測(cè)精度大幅提高。同時(shí),通過聚光罩對(duì)鹵素?zé)舭l(fā)出的激勵(lì)光進(jìn)行匯聚,且聚光罩設(shè)于外罩內(nèi)部,能夠提高對(duì)激勵(lì)光的匯聚效果。
聲明:
“光激勵(lì)紅外熱成像無損檢測(cè)系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)