本實(shí)用新型涉及一種用于超聲波無損檢測(cè)的便攜式校核試塊,所述校核試塊近似呈梯形體,所述梯形體包括上底面、下底面、左斜面、右斜面、前端面和后端面,所述上底面平行于下底面且長度小于下底面,所述上底面與左斜面的內(nèi)夾角為160°,所述上底面與右斜面的內(nèi)夾角為150°,所述下底面與左斜面通過左過渡面過渡連接,所述下底面與右斜面通過右過渡面過渡連接,所述左過渡面、右過渡面均垂直于下底面;所述校核試塊上設(shè)有從前端面垂直貫穿至后端面的圓孔;所述校核試塊上設(shè)有刻度。本實(shí)用新型的優(yōu)點(diǎn)在于:加工方面簡單;試塊體積小巧;將CSK?IA和CSK?IIA兩塊試塊的部分功能集中設(shè)計(jì)在一塊試塊上,滿足現(xiàn)場(chǎng)校核需要。
聲明:
“用于超聲波無損檢測(cè)的便攜式校核試塊” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)