本發(fā)明涉及零件、機器部件和機械裝置、各種材料的無損檢驗方法和設備,具體涉及基于光學全息干涉技術(shù)無損測定殘余應力的方法和設備。首先,記錄初始狀態(tài)下物體檢測區(qū)域的全息圖。然后,通過將物體表面暴露在矩形高電流脈沖下,實現(xiàn)檢測區(qū)域的檢測點中的殘余應力釋放。最后,制作物體的嚴格相同區(qū)域中的干涉圖。由干涉圖中的條紋形狀及尺寸確定檢測區(qū)域的殘余應力。
聲明:
“用光學全息干涉技術(shù)對物體中殘余應力進行實時無損測定的方法與設備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)