本發(fā)明公開了一種蛋殼材料參數(shù)無損測(cè)試裝置及測(cè)試方法,該裝置中所述蛋殼包含大端和小端,所述蛋殼的小端上安裝有上平板,大端的下方安裝有下平板,在蛋殼的赤道上沿著經(jīng)向與緯向交替均勻設(shè)有至少兩個(gè)應(yīng)變片,每個(gè)應(yīng)變片分別與信號(hào)采集系統(tǒng)連接。本發(fā)明的一種蛋殼材料參數(shù)無損測(cè)試裝置的測(cè)試方法,只是對(duì)蛋殼赤道部位上一點(diǎn)進(jìn)行彈性模量與泊松比的測(cè)量,消除了厚度不均勻所帶來的影響,得到的測(cè)量值更加精確,提高了彈性模量和泊松比與真實(shí)值之間的準(zhǔn)確性;對(duì)蛋殼進(jìn)行整體壓縮測(cè)量,無需切割處理,避免了切割所帶來的局部誤差,保證了蛋殼的完整性,且有利于蛋殼后續(xù)力學(xué)試驗(yàn)的實(shí)施。
聲明:
“蛋殼材料參數(shù)無損測(cè)試裝置及測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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