本發(fā)明提供一種針對表皮的無損測量裝置以及一種無損測量方法,該裝置包括:水平延伸的工作平臺;固定于工作平臺上的電動升降裝置;固定于工作平臺上的支架,所述支架包括豎直延伸的立柱以及自立柱的頂端水平延伸的橫桿;通過電動升降裝置水平安裝于工作平臺上方的產(chǎn)品托盤,該產(chǎn)品托盤在橫桿下方延伸,產(chǎn)品托盤上具有一掃描孔;通過支架分別固定于產(chǎn)品托盤上、下兩端的激光傳感器;以及與激光傳感器信號連接的用于實時顯示測量數(shù)據(jù)的顯示器。根據(jù)本發(fā)明提供的無損測量裝置以及方法能夠在保證產(chǎn)品本身不受任何損傷的前提下準確測量出表皮V型特征槽底部最小厚度,提高表皮特征槽底部厚度測量的工作效率,節(jié)約了企業(yè)成本,具有良好的推廣應用前景。
聲明:
“針對表皮的無損測量裝置及其無損測量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)