本發(fā)明涉及集成電路中硬件木馬的無損檢出系統(tǒng),包括離心加速裝置、測試電路系統(tǒng)和外圍監(jiān)控裝置。所述的離心加速裝置包括一個(gè)減速電機(jī)直驅(qū)的承載盤和電機(jī)調(diào)速控制器,承載盤上設(shè)置有固定槽部件和配重板,具備夾具和配重調(diào)整功能;測試電路系統(tǒng)包括激勵(lì)發(fā)生、響應(yīng)記錄和比對(duì)、精密電壓源、功耗監(jiān)測和通信電路;外圍監(jiān)控裝置由數(shù)據(jù)接收和計(jì)算機(jī)構(gòu)成。本發(fā)明為可疑的集成電路提供相應(yīng)測試環(huán)境;以無損方式檢出被植入硬件木馬的集成電路,可以使被植入硬件木馬的集成電路在進(jìn)入應(yīng)用系統(tǒng)前被檢出,避免應(yīng)用系統(tǒng)受到硬件木馬的威脅,保證重要系統(tǒng)的安全。
聲明:
“集成電路中硬件木馬的無損檢出系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)