本發(fā)明提供一種LED光源結(jié)溫的無(wú)損實(shí)時(shí)測(cè)量方法,其包括如下步驟:S1、對(duì)待檢測(cè)的LED光源進(jìn)行通電,將LED光源通電后發(fā)出的光束經(jīng)光學(xué)元件后形成的光學(xué)成像投影到屏上;S2、建立LED光源中各LED
芯片與光學(xué)成像之間的位置對(duì)應(yīng)關(guān)系;S3、根據(jù)建立的對(duì)應(yīng)關(guān)系,分別采集光學(xué)成像中各個(gè)位置的光束,對(duì)光束中LED芯片發(fā)出的光進(jìn)行光譜分析,獲得包括對(duì)應(yīng)位置的各LED芯片的光頻峰值、寬度信息;S4、建立光譜?溫度關(guān)系的標(biāo)準(zhǔn)曲線,結(jié)合標(biāo)準(zhǔn)曲線和獲得的光譜,確定LED光源中各LED芯片的結(jié)溫溫度。本發(fā)明能夠?qū)崟r(shí)無(wú)損地對(duì)每個(gè)LED芯片的結(jié)溫進(jìn)行測(cè)量,并根據(jù)測(cè)量結(jié)果對(duì)LED光源的質(zhì)量、使用壽命作出評(píng)價(jià)。
聲明:
“LED光源結(jié)溫的無(wú)損實(shí)時(shí)測(cè)量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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