公開了使用自定義質(zhì)量控制任務(wù)進行無損測試(NDT)的系統(tǒng)和方法。一種示例NDT系統(tǒng)包括以下中的至少一個:磁性顆粒檢驗裝置或滲透物測試裝置、用戶接口裝置、處理器,以及耦合到處理器并存儲機器可讀指令的存儲器。當(dāng)被執(zhí)行時,所述指令使所述處理器:訪問包括多個任務(wù)和對應(yīng)的任務(wù)定義的質(zhì)量驗證程序;基于所述多個任務(wù)的狀態(tài)顯示所述多個任務(wù)中的一個或多個;接收與所述多個任務(wù)中的一個或多個任務(wù)相關(guān)聯(lián)的一個或多個結(jié)果;存儲與所述磁性顆粒檢驗裝置或所述滲透物測試裝置相關(guān)聯(lián)的所述一個或多個結(jié)果;以及基于所述一個或多個結(jié)果控制所述磁性顆粒檢驗裝置或所述滲透物測試裝置的至少一個方面。
聲明:
“使用自定義質(zhì)量控制任務(wù)進行無損測試的系統(tǒng)和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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