本發(fā)明公開(kāi)了一種封閉殼體內(nèi)金屬成份及位置的無(wú)損測(cè)定方法,采用不同脈沖寬度的電磁脈沖串激勵(lì)及寬頻高靈敏度接收傳感器,對(duì)被檢封閉殼體部件外部進(jìn)行周向及徑向掃描,獲取主動(dòng)激勵(lì)/接收的電磁信息,重建被檢封閉部件外部的電磁場(chǎng)分布,與標(biāo)準(zhǔn)部件外部測(cè)得的電磁場(chǎng)分布進(jìn)行比較,從而得到被檢封閉殼體部件內(nèi)金屬成份及位置的變化情況,實(shí)現(xiàn)封閉殼體內(nèi)金屬成份及位置的精確測(cè)量、快速定位。
聲明:
“封閉殼體內(nèi)金屬成份及位置的無(wú)損測(cè)定方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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