本發(fā)明公開了一種西瓜徒長苗無損判定方法。該方法用于對西瓜徒長苗和正常苗進(jìn)行判定,首先獲取西瓜穴盤苗的表型參數(shù),再對測量獲得的表型數(shù)據(jù)進(jìn)行預(yù)處理,補(bǔ)償測量誤差,再獲取徒長值Z,最后根據(jù)徒長值Z的大小對徒長苗和正常苗進(jìn)行判定,并且提供了具體的判定規(guī)則。本發(fā)明通過數(shù)據(jù)的直觀定量分析,可以彌補(bǔ)人工篩選的不足。建立的徒長苗無損判定規(guī)則具有很強(qiáng)的適用性,可用于各個生長期的西瓜苗。西瓜苗的表型數(shù)據(jù)可通過圖像識別等無損測量方式獲取,從而實現(xiàn)對幼苗的大規(guī)模智能化檢測。本發(fā)明能夠減少人工育苗篩選的工作量,顯著降低生產(chǎn)成本。
聲明:
“西瓜徒長苗無損判定方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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