本發(fā)明公開了一種用于電子產(chǎn)品零件外部殼體損壞檢測裝置及其檢測方法包括:檢測裝置及檢測系統(tǒng);所述檢測裝置包括:基礎(chǔ)組件、檢測組件和上下料組件,其中基礎(chǔ)組件包括基座;檢測組件包括固定安裝在所述基座上方的發(fā)聲檢測裝置,以及固定安裝在所述基座上且設(shè)置在所述發(fā)聲檢測裝置側(cè)部的注氣檢測裝置。而本發(fā)明在上料組件的側(cè)部設(shè)計注氣檢測裝置,通過注氣檢測裝置進(jìn)行對放置在氣檢測室內(nèi)的電子產(chǎn)品殼體內(nèi)部進(jìn)行注氣,而當(dāng)電子殼體內(nèi)部氣壓穩(wěn)定在一個值時,則說明殼體無損壞,而當(dāng)氣壓出現(xiàn)波動時,則說明殼體具有損壞,進(jìn)而根據(jù)氣壓差進(jìn)行判定殼體的損壞程度。
聲明:
“用于電子產(chǎn)品零件外部殼體損壞檢測裝置及其檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)