本發(fā)明公開了一種透明材料表面及內(nèi)部缺陷的檢測方法和檢測系統(tǒng)，檢測系統(tǒng)包括：光學測量系統(tǒng)、光學分析系統(tǒng)和彩色共焦數(shù)據(jù)處理程序。光學測量系統(tǒng)用于光的輸出并接收被測透明材料表面及內(nèi)部缺陷的反射光，將其輸出到光學分析系統(tǒng)；光學分析系統(tǒng)，用于接收透明材料表面及內(nèi)部缺陷的反射光；彩色共焦數(shù)據(jù)處理程序，用于對光學分析系統(tǒng)獲取的反射光進行分析以獲取反射峰對應的波長值，再對此波長值進行處理以獲取被測透明材料的表面及內(nèi)部缺陷信息。本發(fā)明還提供了基于上述檢測系統(tǒng)的透明材料表面及內(nèi)部缺陷的檢測方法。本發(fā)明的透明材料表面及內(nèi)部缺陷的檢測方法和檢測系統(tǒng)，能夠快速、無損、準確的對透明材料表面及內(nèi)部缺陷進行定性定量地測量。
聲明：
“透明材料表面及內(nèi)部缺陷的檢測方法和檢測系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究，如用于商業(yè)用途，請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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編輯：管理員
來源：中冶有色技術網(wǎng)
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2025年03月25日 ~ 27日 
