本發(fā)明公開了一種基于低頻激勵的復(fù)合式渦流檢測探頭及檢測方法,屬于無損檢測技術(shù)領(lǐng)域。本申請通過在遠場渦流檢測的基礎(chǔ)上,向屏蔽結(jié)構(gòu)內(nèi)增加一個常規(guī)渦流檢測線圈,與遠場渦流共用同一個激勵線圈,既不影響遠場渦流的對深層缺陷的檢測,也可利用常規(guī)渦流檢測提升上表面缺陷的檢測精度;通過內(nèi)層為銅、外層為硅鋼的雙層屏蔽罩設(shè)計,利用高電導(dǎo)率的銅受到激勵線圈磁場的影響,會在材料內(nèi)部產(chǎn)生感生渦流,感生渦流的磁場會阻礙直接耦合通道磁場的傳播,而硅鋼的磁導(dǎo)率遠遠高于空氣與鋼鐵,因此大部分磁場能量會在硅鋼內(nèi)部傳導(dǎo),而非在屏蔽罩外的空氣中傳播,實現(xiàn)了包含鋼板表面缺陷信息和包含鋼板深層缺陷信息的能量的分離,提高了檢測精度。
聲明:
“基于低頻激勵的復(fù)合式渦流檢測探頭及檢測方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)