本發(fā)明公開了一種熱成像檢測(cè)方法,系統(tǒng)及設(shè)備,涉及無損檢測(cè)領(lǐng)域。本發(fā)明使用所述熱源對(duì)所述待檢物體進(jìn)行加熱,并使用所述散熱裝置在所述熱源的遠(yuǎn)端對(duì)所述待檢物體進(jìn)行降溫,使得所述待檢物體內(nèi)部形成熱流場(chǎng),當(dāng)所述待檢物體存在缺陷,缺陷擾動(dòng)熱流場(chǎng)會(huì)造成溫度異常。通過熱成像裝置獲取所述待檢物體的熱像圖;進(jìn)行分析和處理后,通過溫度是否異常來判斷是否存在缺陷。該發(fā)明通過設(shè)置所述熱源與所述散熱裝置的位置,能夠增大所述待檢物體的熱流場(chǎng)梯度,使得溫度擴(kuò)散的均勻性更好,還可檢測(cè)不同方向上的缺陷,可應(yīng)用于土木建筑、航空航天、石油化工、核電、鐵路等領(lǐng)域的無損檢測(cè),結(jié)構(gòu)健康檢測(cè)和產(chǎn)品質(zhì)量控制。
聲明:
“熱成像檢測(cè)方法,系統(tǒng)及設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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