一種數(shù)字平板式X射線檢測系統(tǒng)缺陷定位標(biāo)記方法,按照以下步驟進行:(1)系統(tǒng)定位標(biāo)記裝置連接與信號聯(lián)接;(2)缺陷信號采集;(3)缺陷點空間幾何定位;(4)定位標(biāo)記。本發(fā)明缺陷定位標(biāo)記方法由于采用空間三維測量坐標(biāo)定位,其定位精度大大提高。又由于采用了直線噴射技術(shù)方法,大大節(jié)省了空間體積。相比傳統(tǒng)的打標(biāo)方法由于受空間限制不能直接定位缺陷部位還要進行人工二次測量定位標(biāo)示而言,本方法不受空間限制,可直接噴射標(biāo)示到遠端的實際缺陷位置。本方法具有結(jié)構(gòu)簡捷、測量精確定位精度高、標(biāo)記點小、適用性強等優(yōu)點。可廣泛應(yīng)用在數(shù)字平板式X射線檢測系統(tǒng)等更多無損檢測系統(tǒng)的標(biāo)記定位領(lǐng)域。