本發(fā)明公開了本發(fā)明提供了一種交變磁場磁光成像檢測裝置及系統(tǒng),包括磁光成像傳感器,用于依據(jù)處理器發(fā)送的第一控制指令采集勵磁后的待測工件的磁光圖像,并發(fā)送磁光圖像,以便處理器對磁光圖像進(jìn)行缺陷分析得到分析結(jié)果;還包括交變磁場發(fā)生器,用于依據(jù)處理器發(fā)送的第二控制指令、并以預(yù)設(shè)頻率對待測工件進(jìn)行勵磁,使待測工件產(chǎn)生相應(yīng)的感應(yīng)磁場;預(yù)設(shè)頻率依據(jù)待測工件的導(dǎo)磁率確定。本發(fā)明在使用過程中不僅可以實現(xiàn)對高導(dǎo)磁率工件進(jìn)行無損檢測,還可以實現(xiàn)對低導(dǎo)磁率工件進(jìn)行無損檢測,在一定程度上擴(kuò)大了適用范圍。
聲明:
“交變磁場磁光成像檢測裝置及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)