本實(shí)用新型提供一種復(fù)合絕緣子的缺陷的檢測(cè)設(shè)備和系統(tǒng)。該設(shè)備包括:供電電源,與供電電源連接的微波源,用于產(chǎn)生高頻微波;波導(dǎo)管,用于將高頻微波傳導(dǎo)至復(fù)合絕緣子表面的測(cè)試點(diǎn),并傳導(dǎo)測(cè)試點(diǎn)的反射波;設(shè)置在波導(dǎo)管中的定向耦合器,用于分離提取反射波并發(fā)送至微波檢測(cè)器;與定向耦合器連接的微波檢測(cè)器,用于將反射波轉(zhuǎn)換為測(cè)試點(diǎn)對(duì)應(yīng)的電壓強(qiáng)度信號(hào);與微波檢測(cè)器連接的數(shù)據(jù)采集卡,用于采集所述信號(hào)并發(fā)送至處理器,以使處理器確定測(cè)試點(diǎn)是否存在缺陷。復(fù)合絕緣子采用非金屬材料,而高頻微波在非金屬材料中穿透能力強(qiáng),不需要表面接觸和耦合劑,基于反射波即可實(shí)現(xiàn)復(fù)合絕緣子內(nèi)部缺陷的無(wú)損檢測(cè),提高了檢測(cè)的便捷性和檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性。
聲明:
“復(fù)合絕緣子的缺陷的檢測(cè)設(shè)備和系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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