本發(fā)明涉及高光譜無損檢測技術(shù)領(lǐng)域,公開了一種玉米籽粒雙表面高光譜檢測裝置,包括支撐件、外轉(zhuǎn)動件、內(nèi)轉(zhuǎn)動件和高光譜采集單元。外轉(zhuǎn)動件可轉(zhuǎn)動安裝于支撐件頂部,內(nèi)轉(zhuǎn)動件可轉(zhuǎn)動安裝于外轉(zhuǎn)動件,內(nèi)轉(zhuǎn)動件與外轉(zhuǎn)動件的轉(zhuǎn)動軸線相重合,外轉(zhuǎn)動件帶動內(nèi)轉(zhuǎn)動件轉(zhuǎn)動。本發(fā)明實(shí)施例提供的玉米籽粒雙表面高光譜檢測裝置,外轉(zhuǎn)動件的第一擋板和第二擋板不但為玉米種子籽粒提供了兩個(gè)表面檢測的檢測位,而且形成內(nèi)轉(zhuǎn)動件的轉(zhuǎn)動空間,既能推動內(nèi)轉(zhuǎn)動件轉(zhuǎn)動,又對內(nèi)轉(zhuǎn)動件的轉(zhuǎn)動形成約束,以完成玉米種子籽粒的翻面。從而能夠通過高光譜采集單元獲取玉米籽粒包括胚面和非胚面兩個(gè)表面的高光譜信息,更加準(zhǔn)確反映出整粒玉米種子的真實(shí)情況。
聲明:
“玉米籽粒雙表面高光譜檢測裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)