一種基于聲壓反射系數(shù)自相關(guān)函數(shù)的薄層厚度超聲檢測(cè)方法,屬于無(wú)損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。該方法使用超聲脈沖回波技術(shù)和聲壓反射系數(shù)自相關(guān)信號(hào)處理方法進(jìn)行薄層厚度測(cè)量。首先使用超聲脈沖回波系統(tǒng)采集一個(gè)包含薄層上表面和下表面的反射回波信號(hào),再采集一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)試塊的上表面回波信號(hào)。然后分別對(duì)采集到的信號(hào)進(jìn)行快速傅里葉變換,求出薄層聲壓反射系數(shù)自相關(guān)函數(shù)。最后在自相關(guān)函數(shù)中讀取各極大值對(duì)應(yīng)的頻率,并結(jié)合材料聲速計(jì)算得到薄層厚度。本方法克服了傳統(tǒng)的超聲干涉測(cè)厚法必須能夠讀取信號(hào)頻譜中兩個(gè)諧振頻率才能準(zhǔn)確獲得薄層厚度的局限性,具有測(cè)量精度高、可操作性強(qiáng)、設(shè)備成本低、適應(yīng)范圍廣等優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“基于聲壓反射系數(shù)自相關(guān)函數(shù)的薄層厚度超聲檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)