本發(fā)明涉及一種利用脈沖紅外熱波檢測(cè)吸波涂層缺陷的判定方法,屬于無(wú)損探傷檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。對(duì)待測(cè)試件激勵(lì)時(shí)采用的加熱設(shè)備可以是高能閃光燈或者其他脈沖式加熱設(shè)備;宜采用脈沖作用時(shí)間較短的高能閃光燈或其它脈沖式加熱設(shè)備,熱成像裝置的采集頻率宜設(shè)置較高,采集時(shí)間需根據(jù)具體待測(cè)試件材料的性質(zhì)設(shè)置。首先需選取具有所有常見缺陷類型的一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)試件進(jìn)行實(shí)驗(yàn)。提取熱擴(kuò)散特征,并建立缺陷判斷判據(jù),實(shí)現(xiàn)不同缺陷類型的判斷;當(dāng)涂層結(jié)構(gòu)改變,比如涂層材料、涂層厚度等,應(yīng)參照重新構(gòu)建脫粘缺陷判據(jù)。
聲明:
“利用脈沖紅外熱波檢測(cè)吸波涂層缺陷的判定方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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