一種基于金屬原位晶體學(xué)及磁疇表征金屬磁記憶檢測的方法,屬于金屬磁記憶無損檢測研究領(lǐng)域。將金屬材料本身作為研究對象,在不同應(yīng)力狀態(tài)下(拉伸不同階段或者疲勞不同次數(shù)),利用bitter粉紋法測得對應(yīng)的磁疇圖,利用SEM-EBSD系統(tǒng)測得SEM形貌和取向等晶體學(xué)信息。從而得到金屬材料的晶體學(xué)信息、磁疇與應(yīng)力的關(guān)系。本發(fā)明結(jié)合金屬材料本身得到材料微觀尺度磁信號大小和磁矩的方向以及晶體學(xué)信息,去除了材料本身以外其他因素的干擾,具有良好的可靠性,克服了上述實際應(yīng)用中的誤差。
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“基于金屬原位晶體學(xué)及磁疇表征金屬磁記憶檢測的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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