本申請公開了一種基于多光譜圖像的葵花籽內(nèi)霉檢測方法、電子設(shè)備及介質(zhì)。該方法可以包括:獲取葵花籽的光譜圖像,獲得對應(yīng)葵花籽的光譜特征與圖像、紋理特征;根據(jù)葵花籽的光譜特征與紋理特征,對葵花籽進(jìn)行分類;計算葵花籽的內(nèi)霉概率分布,根據(jù)葵花籽的分類與內(nèi)霉概率進(jìn)行擬合,獲得內(nèi)霉預(yù)測模型;將待測葵花籽代入內(nèi)霉預(yù)測模型中,預(yù)測待測葵花籽的內(nèi)霉概率。本發(fā)明實現(xiàn)了對葵花籽殼內(nèi)籽仁品質(zhì)的帶殼無損檢測。
聲明:
“基于多光譜圖像的葵花籽內(nèi)霉檢測方法、電子設(shè)備及介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)