本實(shí)用新型提供了一種用于非金屬材料缺陷檢測的超聲波探頭,包括:外殼、壓電陶瓷片和金屬片;所述外殼包括頂蓋和底殼;所述底殼的一側(cè)設(shè)置有出線孔;所述壓電陶瓷片設(shè)置在頂蓋和底殼之間;所述壓電陶瓷片的上表面、下表面均為經(jīng)過鍍銀以及極化處理后形成的電極;所述壓電陶瓷片的上表面與頂蓋內(nèi)壁之間、下表面與底殼內(nèi)壁之間均設(shè)置有金屬片;所述金屬片上均設(shè)置有導(dǎo)線;所述導(dǎo)線從所述出線孔中引出。應(yīng)用本實(shí)用新型可以使用上述超聲波探頭對非金屬材料結(jié)構(gòu)內(nèi)部的缺陷進(jìn)行無損檢測。
聲明:
“用于非金屬材料缺陷檢測的超聲波探頭” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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