本實用新型涉及無損檢測技術領域,尤其是一種帶有未焊透結構的相控陣檢測對比試塊,包括試塊本體,試塊本體為圓環(huán)狀結構,試塊本體的圓環(huán)內側等角度均分設有若干人工缺陷,人工缺陷為機械加工的橫通孔結構,若干人工缺陷的橫通孔的孔徑呈階梯式遞增,試塊本體的側面通過膠接等角度均分固定設有若干標尺,標尺與人工缺陷一一對應,若干人工缺陷距試塊本體的側面平面的距離呈階梯式遞增趨勢,標尺上記載有與其相對應的人工缺陷的橫通孔的孔徑及距試塊本體的側面平面的距離數據。本實用新型結構簡單,通用對比性強,具有市場前景,適合推廣。
聲明:
“帶有未焊透結構的相控陣檢測對比試塊” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)