X射線照射下六氟化硫氣體局部放電檢測方法及其裝置,裝置包括試驗變壓器(1)、GIS試驗段(2)、高壓引線(3)、套管(4)、絕緣缺陷(5)、高頻X射線機(6)、X射線發(fā)射窗(7)、四角支架(8)、高頻X射線機控制箱(9)、校驗裝置(10)、檢測阻抗(11)、電纜(12)、采集裝置(13)、電池電纜(14)、電池組(15)、光纖(16)、光纖控制器(17)、USB線(18)和便攜脈沖電流工業(yè)電腦(19)、耦合電容(20)。本發(fā)明具有高效、無損、可視等顯著優(yōu)點。
聲明:
“X射線照射下六氟化硫氣體局部放電檢測方法及其裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)