本發(fā)明涉及無損檢測領(lǐng)域,具體涉及一種適用于角形件檢查的渦流陣列探頭。本裝置探頭可放置軸繞式激勵線圈和密排點式接收線圈,兩側(cè)的軸繞式激勵線圈和中間錯位排布的密排點式接收線圈;軸繞式激勵線圈的銅質(zhì)
漆包線的直徑為0.3mm~1mm之間;密排點式接收線圈的銅質(zhì)漆包線的直徑為0.03mm~0.1mm之間。本探頭可以良好的實現(xiàn)對于L型區(qū)域的豎直部分和水平部分的檢查;通過軸繞式線圈與點式線圈的激勵模式的切換,實現(xiàn)對于不同取向缺陷的有效檢查。
聲明:
“適用于角形件檢查的渦流陣列探頭” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)