本發(fā)明屬于利用光電子方法測(cè)量光纖性能的技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明是利用高雙折射光纖的法拉第效應(yīng)實(shí)現(xiàn)對(duì)高雙折射光纖拍長(zhǎng)測(cè)量的一種新方案,其主要優(yōu)點(diǎn)是可不需破壞高雙折射光纖的保護(hù)層進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)、分辨率高、測(cè)量速度快,測(cè)量結(jié)果不受光纖擺放狀態(tài)影響,并適于低耗高雙折射光纖測(cè)量,可測(cè)出拍長(zhǎng)沿光纖長(zhǎng)度的分布。
聲明:
“高雙折射光纖拍長(zhǎng)測(cè)量方法及裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)