本發(fā)明公開了一種基于磁性標(biāo)記的順磁箱內(nèi)物體位移測量裝置,包括磁屏蔽間、龍門式測量架、磁性標(biāo)記、第一測量系統(tǒng)和第二測量系統(tǒng),其中:龍門式測量架設(shè)置在磁屏蔽間內(nèi),其內(nèi)放置有裝載了被測物體的順磁箱;磁性標(biāo)記固定在被測物體離順磁箱內(nèi)表面最近的部位,并沿著被測物體可能發(fā)生位移的方向磁化;第一測量系統(tǒng)用于記錄被測物體放置前后以及被測物體發(fā)生位移后的磁場變化;第二測量系統(tǒng)用于第一測量系統(tǒng)在記錄磁場變化的同時進(jìn)行相應(yīng)的一維坐標(biāo)標(biāo)定。本發(fā)明可對順磁金屬或非金屬箱內(nèi)物體的位移進(jìn)行無損檢測,擁有著較高的檢測深度和較低的誤差,并且對材料無損,對人體健康毫無任何危害,因此,其適于推廣應(yīng)用。
聲明:
“基于磁性標(biāo)記的順磁箱內(nèi)物體位移測量裝置及其測量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)