本發(fā)明提供一種利用外形測(cè)量數(shù)據(jù)校準(zhǔn)CT測(cè)量數(shù)據(jù)的方法,屬于工業(yè)CT無損檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。針對(duì)工業(yè)CT測(cè)量誤差來源復(fù)雜、溯源困難的問題,本方法根據(jù)外形測(cè)量器具種類較多且容易獲得的實(shí)際情況,利用外形測(cè)量數(shù)據(jù)高精度、高可靠性的特點(diǎn),通過測(cè)量零件相同部位幾何尺寸獲取CT的測(cè)量偏差,然后采用先測(cè)量再校準(zhǔn)或先校準(zhǔn)再測(cè)量的方式實(shí)現(xiàn)CT測(cè)量精度的提升。該方法不需要研制專用的標(biāo)準(zhǔn)件,不受零件材料、結(jié)構(gòu)、尺寸等因素影響,適用性廣,可有效提高CT測(cè)量結(jié)果的精度和可靠性。
聲明:
“利用外形測(cè)量數(shù)據(jù)校準(zhǔn)CT測(cè)量數(shù)據(jù)的方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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