本發(fā)明涉及無(wú)損檢測(cè)領(lǐng)域,具體涉及對(duì)鐵磁構(gòu)件的表面裂紋、氣孔、夾渣、應(yīng)力集中等缺陷的無(wú)損探測(cè)設(shè)備;本發(fā)明提供了一種可對(duì)構(gòu)件表面進(jìn)行面掃描的基于漏磁場(chǎng)雙分量的陣列型鐵磁構(gòu)件表面缺陷探測(cè)器,包括差分陣列式漏磁探頭,由法向分量檢測(cè)霍爾傳感器組和切向分量檢測(cè)霍爾傳感器組組成,分別用于檢測(cè)漏磁場(chǎng)的法向分量電壓信號(hào)和切向分量電壓信號(hào);信號(hào)調(diào)理電路,用以對(duì)差分陣列式漏磁探頭檢測(cè)到的電壓信號(hào)進(jìn)行調(diào)理;數(shù)據(jù)采集與處理單元,通過對(duì)信號(hào)調(diào)理電路輸出的電壓信號(hào)進(jìn)行分析,判斷鐵磁構(gòu)件表面是否存在缺陷。本發(fā)明一次性檢測(cè)面積大、檢測(cè)速度快、檢測(cè)準(zhǔn)確、漏檢率低,并能提供對(duì)構(gòu)件表面的裂紋等缺陷進(jìn)行定量分析所需的數(shù)據(jù)。
聲明:
“基于漏磁場(chǎng)雙分量的陣列型鐵磁構(gòu)件表面缺陷探測(cè)器” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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