本發(fā)明公開了一種弱磁場梯度測量的裝置及方法,所述的裝置包括探頭、選頻放大電路、含A/D和D/A的單片機系統(tǒng)、升壓驅動電路、顯示單元,所述探頭包括傳感器、振動部件和外殼,振動部件為懸臂梁結構的壓電雙晶片,傳感器安裝在振動部件的自由端;所述的方法包括采用自相關檢測技術,通過傳感器的振動將靜態(tài)的磁場分布調制成恒定頻率的微弱交流信號輸出,由選頻放大電路對該微弱信號進行放大,由單片機系統(tǒng)A/D轉換并作自相關運算處理,算出信號的峰峰值電壓,該電壓正比于被測量的磁場梯度值。本發(fā)明測量靈敏度高、成本低;不受工作環(huán)境條件限制;本發(fā)明尤其應用于金屬磁記憶無損檢測時,沒有微分噪聲,對缺陷和應力集中檢測準確性高。
聲明:
“弱磁場梯度測量裝置及方法” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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