本發(fā)明涉及一種用KELVIN探針(SKP)與石英晶體微天平(QCM)聯(lián)合測(cè)試金屬材料大氣腐蝕的方法及所用的裝置。測(cè)試時(shí),將沉積PT或AU膜的石英晶片封裝,除油,吹干;將目標(biāo)金屬沉積到石英晶體片的外表面;調(diào)節(jié)氣氛箱中氣體流量;利用SKP掃描電極表面電位分布,同時(shí)使用QCM檢測(cè)電極表面質(zhì)量的變化。所述的裝置不僅可以不接觸、無(wú)損傷的測(cè)量金屬表面腐蝕電位,而且能夠以納克級(jí)的高分辨率同時(shí)實(shí)現(xiàn)大氣環(huán)境中低腐蝕速度下電極的質(zhì)量變化測(cè)試,并且提供信息豐富,配伍性好,安裝方便,操作易行,縮短試驗(yàn)周期,不干擾電極反應(yīng)等特點(diǎn)。
聲明:
“金屬大氣腐蝕行為聯(lián)合測(cè)試方法及所用的裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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