本發(fā)明公開了一種基于光學(xué)相干斷層掃描成像技術(shù)測(cè)量涂層厚度及其應(yīng)用,所述的方法包括以下步驟:搭建光學(xué)相干斷層掃描成像(OCT)測(cè)試系統(tǒng);使用OCT系統(tǒng)對(duì)樣品材料進(jìn)行深度方向和表面的二維橫截面進(jìn)行掃描,并最終獲得被測(cè)對(duì)象的三維掃描圖;將所獲得的三維掃描圖進(jìn)行降噪處理后,轉(zhuǎn)換成二進(jìn)制圖像,之后采用邊緣跟蹤法分割涂層的上下邊界,計(jì)算涂層的厚度。所述的方法不僅能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)涂層的無損自動(dòng)檢測(cè),而且該方法能夠?qū)崿F(xiàn)快速、準(zhǔn)確、大范圍的測(cè)量涂層的厚度??蓱?yīng)用于測(cè)量薄膜涂層的厚度包括印刷電路板表面的三防漆、著色聚合物涂料、瓷器保護(hù)涂層、等離子噴涂陶瓷、生物可降解復(fù)合涂層、清漆涂層、透明或半透明藥片薄膜涂層。
聲明:
“基于光學(xué)相干斷層掃描成像技術(shù)測(cè)量涂層厚度及其應(yīng)用” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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